FIB/MEB Zeiss Crossbeam 340

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Zeiss Crossbeam 340 Canon électronique à Effet de Champ; Source d’ions: Gallium
Associe les fonctionnalités d’un MEB à celle d’une colonne d’ions
Imagerie, EDS et EBSD en mode haut vide et low-vacuum (jusqu’à 60 Pa)
Abrasion de surfaces et découpe de lamelles uniques ou en série;
Préparation de lames pour le MET; Reconstruction volumique 3D en
imagerie, EDS, EBSD
Précipités d’hydrure de Titane dans un substrat de Ti en coupe transversePrécipités d’hydrure de
Titane dans un substrat
de Ti en coupe
transverse